核工業(yè)北京地質研究院分析測試研究中心采購了兩臺特殊的質譜儀，今年兩臺設備同時到貨、安裝，一臺是法國CAMECA公司的IMS 1280-HR高分辨二次離子質譜儀，另一臺是TESCAN公司的雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質譜聯(lián)用系統(tǒng)。

　　之所以采購兩臺二次離子質譜，是因為高分辨質譜儀以*的檢出限以及超高的分辨能力和精度著稱，但成像及原位分析能力較差;而聯(lián)用系統(tǒng)是掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)和飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)，三者的結合，具有SEM的二維高分辨成像和成分、結構等分析能力，結合FIB的微區(qū)分析與加工能力，實現(xiàn)成分和結構的三維分析;FIB與TOF-SIMS的聯(lián)用，相比于大型質譜儀具有更高的空間分辨率、更快速的成像速度、更優(yōu)異的成像能力，同時操作也更簡單靈活。

        整套聯(lián)用系統(tǒng)可同時進行原位超輕元素、同位素分析能力，此外還可以對元素、同位素等進行二維、三維成像分析。

　　TESCAN公司在電子顯微鏡和聚焦離子束領域有多項創(chuàng)新，是掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術、聚焦離子束與飛行時間質譜儀聯(lián)用技術以及氙等離子聚焦離子束技術的開拓者，也是行業(yè)領域的技術領導者。

　　這是國內首套雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質譜聯(lián)用系統(tǒng)，TESCAN十分重視和核工業(yè)北京地質研究院的合作，研發(fā)部的專家專程到北京進行培訓，并和中心主任郭冬發(fā)研究員、書記范光研究員等專家進行了交流。

　　TESCAN公司表示，他們將繼續(xù)跟蹤雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質譜聯(lián)用系統(tǒng)的新應用進展，同時也歡迎感興趣的用戶前來參觀和交流。

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